107 年 107年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・材料分析 申論 1可以利用X 光繞射光譜（diffraction spectrum）或是電子繞射圖譜（diffraction pattern）來分析晶體的晶格常數（lattice constant），請論述那一個技術可以得到較準確的值？（10 分） 看答案與解析