高普考題庫
108 年 108年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・半導體工程
申論 4㈠成長二氧化矽(SiO2)薄膜的方式通常都使用熱氧化法(thermaloxidation),熱氧化法又分乾氧化(dry oxidation)與濕氧化(wetoxidation),請解釋為什麼濕氧化的成長速率大於乾氧化的成長速率?(10 分)㈡在一光學微影製程(photolithography)系統,假如透鏡的直徑為5.0 cm,透鏡至影像的距離為7.0 cm,若使用的紫外光波長為350 nm,則此系統的最小線距解析度(line resolution)為何?(10 分)