高普考題庫
108 年 108年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・工程統計學與品質管制概要
申論 5Shewhart Attribute 管制圖：令X =1，若晶片是破片；否則定義X= 0。X~ Bernoulli 分配。ii i令Z 為晶片i 上的總缺點數。Z~Poisson 分配。ii假設每個時間點檢查n=3 個晶片，將下列4 個計數管制圖的y 軸的統計量寫成上述X 或Z 的函數。（每小題5 分，共20 分）ii㈠np Chart㈡p Chart㈢c Chart㈣u Chart