申論 1單選題：（每小題5 分，共30 分）㈠當一製程達成6σ水準時，其相對之不符規格的比率是多少dpm？在此假設製程中心值等於目標值。dpm（defect per million）是單位，例如10dpm =一百萬個裡有十個不良品。㈡管制圖有型一及型二誤差，在製程能力不變的情況下，若將管制上、下限變寬鬆（但中心線不變），那種誤差發生的機率會增加？型一 型二 型一及型二 兩者皆不會㈢當品質特性值須透過量測儀器來測得時，因使用量測儀器而造成的變異會成為品質特性量測值之變異的一部份，若因不適用的量測儀器或人員而增加的變異過高，可能造成SPC 分析不正確。以下那個是最佳的量測儀器適用性的評估方法？柏拉圖 Gauge R&R X -R 管制圖 Histogram 直方圖特性要因分析圖㈣若P(A) = 0.5，P(B) = 0.8，P(A∩B) = 0.4，P(A∪B) = 0.9，則P(B|A) = ？4/5 4/8 5/9 8/9 以上皆非㈤某生產線24 小時自動化運作，其每天製造的不良品個數服從Poisson 過程，期望值為λ（個/天），以下敘述何者有誤？平均每隔(24/λ)小時做出一個不良品一天內製出不良品的個數服從Poisson 分配，期望值為λ個七天內製出不良品的個數服從Poisson 分配，期望值為7λ個在任何時間觀察，自觀察點起至下一個不良品發生的間隔時間服從指數分配在任何時間觀察，自觀察點起至下面第三個不良品發生的間隔時間服從指數分配㈥若隨機變數X服從t分配，則X 2 服從什麼分配？常態 t 卡方 gamma F