高普考題庫
106 年 106年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・工程統計學與品質管制
申論 1針對下列各情況，選擇一個適當的機率分配。無須列出參數值。（20 分）㈠品管圖上每次檢驗就將相關之統計量填入品管圖之y 軸上。檢驗出第1 個落在品管圖上下限外之值所需之總檢驗次數。㈡一個晶片之厚度。㈢10 個晶片中不良的晶片數（每個晶片只分兩種：良片與不良片）。㈣晶片檢驗線上，檢驗出第2 個不良品所需總檢驗次數。