106 年 106年公務人員高等考試三級考試暨普通考試・工程統計學與品質管制 申論 2令X 表示某產品的品質指標，如晶片中心點厚度等。令n 為每次檢查的樣品數。現在欲建立一個監控「平均數μ, X 」的管制圖，依傳統ARL與ARL為評判標準，下列X01那一個建議比較好？說明理由。（20 分）σ‧小王建議(a)採用統計量X (n = 3)，(b)管制圖上下限：μ ±3X。Xσ‧小李建議(a)採用統計量X (n = 5)，(b)管制圖上下限：μ ±3X。X 看答案與解析